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美國API原廠進口高性能波片與相位延遲器
美國API原廠進口高性能波片與相位延遲器
一、產品概述
美國API公司生產的波片與相位延遲器是一類通過調控光的相位差來改變光偏振態的光學元件,廣泛應用于光學成像、激光加工、光譜分析等領域。產品涵蓋四分之一波片、半波片和全波片,采用薄膜和丙烯酸等材質,可提供不同相位延遲量,滿足各類精密光學系統的需求。
二、核心產品系列及規格
(一)薄膜材質波片
類型 | 產品型號 | 顏色 | 厚度 | 相位延遲量(OPD) | 表面處理 |
四分之一波片 | APQW92-003-PC-165NM | 透明 | 0.003" | 165nm | 光澤面 |
四分之一波片 | APQW92-003-PC-140NM | 透明 | 0.003" | 140nm | 光澤面 |
四分之一波片 | APQW92-003-PC-125NM | 透明 | 0.003" | 125nm | 光澤面 |
四分之一波片(高消光比) | APQW92-002-PC-143NMHE | 透明 | 0.002" | 143nm | 光澤面 |
半波片 | APHW92-003-PC-280NM | 透明 | 0.003" | 280nm | 光澤面 |
全波片 | APFW92-007-PC-560NM | 透明 | 0.007" | 560nm | 光澤面 |
(二)丙烯酸材質波片
類型 | 產品型號 | 顏色 | 厚度 | 相位延遲量(OPD) | 表面處理 |
四分之一波片(高消光比) | APQW92-070A-HE | 透明 | 0.070"(可定制多種厚度) | 143nm | 光澤面 |
全波片 | APQW92-070A-560NM | 透明 | 0.070"(可定制多種厚度) | 560nm | 光澤面 |
半波片 | APQW92-070A-280NM | 透明 | 0.070"(可定制多種厚度) | 280nm | 光澤面 |
四分之一波片 | APQW92-070A-165NM | 透明 | 0.070"(可定制多種厚度) | 165nm | 光澤面 |
三、產品核心特點
l 多種類型選擇:提供四分之一波片、半波片和全波片,滿足不同相位延遲需求。
l 材質多樣:采用薄膜和丙烯酸材質,部分產品可定制厚度,適配不同光學系統。
l 高消光比設計:部分四分之一波片具備高消光比特性,提升偏振光純度,適用于精密光學應用。
l 高精度相位延遲:相位延遲量涵蓋125nm至560nm,滿足不同波長光的相位調控需求。
l 表面處理優良:均采用光澤面處理,減少光散射,保證光學性能穩定。
四、工作原理
波片與相位延遲器的工作原理基于光在各向異性介質中傳播時的雙折射現象:
1. 雙折射現象:光在各向異性介質中傳播時,會分解為振動方向相互垂直的兩束光(尋常光o光和非常光e光),它們在介質中的傳播速度不同。
2. 相位延遲產生:兩束光通過波片后,由于傳播速度差異會產生相位差,相位延遲量(OPD)由波片材質的折射率差和厚度決定。
3. 偏振態調控:
a. 四分之一波片:使兩束光產生四分之一波長(90°)的相位差,可將線偏振光轉換為圓偏振光,或反之。
b. 半波片:產生半波長(180°)的相位差,可改變線偏振光的振動方向。
c. 全波片:產生一個波長(360°)的相位差,主要用于補償其他光學元件的相位誤差。
五、應用領域
l 激光技術:用于激光偏振控制、激光模式轉換等。
l 光學成像:如偏光顯微鏡、3D顯示系統等,改善成像質量。
l 光譜分析:在光譜儀中用于偏振光分析,提高光譜測量精度。
l 光通信:調控光的偏振態,優化光信號傳輸。
l 精密測量:用于干涉儀等精密測量設備,提高測量分辨率和準確性。
六、技術優勢
API 波片與相位延遲器采用先進的光學設計和制造工藝,具有以下優勢:
l高精度相位控制:嚴格控制材質折射率和厚度,確保相位延遲量的準確性和一致性。
l 寬波長適用性:部分產品可在較寬波長范圍內保持穩定的相位延遲性能。
l環境穩定性:經過嚴格的環境測試,具備良好的抗溫變、抗濕度能力,適合各種工況下使用。
l 定制化服務:可根據客戶需求提供定制化的波片與相位延遲器,包括材質、厚度、相位延遲量等參數的定制。
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